一、产品介绍：
该系列设备通过热流罩或测试腔将电子元件，集成电路IC，PCB电路板与周边环境隔离，然后对其循环喷射冷热气流，使其温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。
二、性能特点：
与传统高低温试验箱、快温变试验箱、冷热冲击试验箱、温湿度试验箱对比,高低温冲击热流仪具有以下特点：
1) 变温速率更快；
2) 温控精度：±1℃；
3) 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度；
4) 针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件；
5) 对测试机平台负载板上的IC芯片进行温度循环/冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试；
6) 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。
 
三、技术指标